芯片高加速應力試驗箱（HAST）

非飽和型高壓加速壽命試驗箱（HAST）是失效分析與可靠性驗證的核心工具，其高效性、精準性與安全性為產品質量提升提供了科學依據。企業選型時需結合行業特性（如半導體封裝、汽車電子工況）及測試目標（如加速老化、多應力耦合分析），選擇適配的配置方案

核心性能參數

1. 溫濕度控制

• 溫度范圍：+100℃～+143℃（支持非標定制至+155℃），控溫精度±0.5℃。

• 濕度范圍：65%～100% RH（可調），支持飽和（100% RH）與非飽和（75% RH）模式切換，濕度波動度±2.5% RH。

• 壓力范圍：0.2～3.5 kg/cm2（表壓，約0.05～0.343 MPa），壓力波動±0.1 kg/cm2。

• 加壓時間：約50分鐘（從常壓升至目標壓力）。

2. 均勻性與穩定性

• 溫度均勻度：≤±0.5℃（濕度100% RH時）。

• 濕度均勻度：±5% RH（非飽和模式）。

• 循環方式：強制對流循環，確保溫濕度分布均勻。

芯片高加速應力試驗箱（HAST）

結構設計與功能亮點

1. 創新結構

• 獨立蒸汽發生室：避免蒸汽直接沖擊樣品，減少局部破壞風險。

• 雙層試樣架：標配不銹鋼隔板（2層），支持定制專用產品架。

2. 高效測試能力

• 連續運行：最長支持400小時不間斷試驗，適用于超長周期老化測試。

• 加速老化：通過高溫、高濕、高壓多應力疊加，快速暴露產品缺陷（如電子封裝滲水、PCB分層等）。

3. 節能與便捷性

• 自動供水系統：純水或蒸餾水自動補給，減少人工干預。

• 低能耗設計：高效真空泵與保溫材料（玻璃棉+聚氨酯發泡）降低能耗。